ทนอยพระราชบัญญัติพัฒนาระบบมาตรวิทยาแห่งชาติ พ.ศ. 2540
มาตรา 3
ยังไม่ได้ยืนยันว่ามาตรานี้ยังใช้บังคับอยู่หรือไม่ — เหตุผล · โปรดตรวจสอบกับแหล่งทางการก่อนนำไปใช้
มาตรานี้ถูกแก้ไขเพิ่มเติมแล้ว — ตัวบทด้านล่างเป็นฉบับที่เก็บไว้ในคลัง และอาจเป็นข้อความก่อนการแก้ไข โปรดอ่านตัวบทที่แก้ไขจาก:
พระราชบัญญัติพัฒนาระบบมาตรวิทยาแห่งชาติ พ.ศ. 2540 มาตรา 3 ในพระราชบัญญัตินี้ "มาตรวิทยา" หมายความว่า ศาสตร์เกี่ยวกับการวัดปริมาณและการประยุกต์ใช้ศาสตร์นั้น และให้หมายความรวมถึงกิจกรรมทางวิทยาศาสตร์ที่เกี่ยวกับการสอบเทียบ ปรับตั้งความถูกต้องของเครื่องมือและอุปกรณ์ที่ใช้ในการวัดปริมาณหรือวิเคราะห์ทดสอบ "มาตรฐานการวัดแห่งชาติ" หมายความว่า มาตรฐานของระบบเครื่องมือ อุปกรณ์ หรือวัสดุอ้างอิงที่ใช้ในการวัดปริมาณ ที่มีวิธีการเก็บรักษา วิธีการใช้งานตามวิธีการมาตรฐานระหว่างประเทศ รวมถึงมาตรฐานการวัด มาตรฐานอ้างอิง วัสดุอ้างอิง ที่ใช้สำหรับกำหนดค่าพื้นฐานของปริมาณให้กับปริมาณวัดที่เกี่ยวข้องในประเทศ ที่เก็บรักษาไว้โดยสถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ หรือหน่วยงานของรัฐที่สถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติมอบหมายเพื่อเป็นพื้นฐานในการกำหนดค่าปริมาณไปยังมาตรฐานการวัดอื่น ๆ สำหรับชนิดของปริมาณวัดที่เกี่ยวข้อง และสามารถสอบกลับได้ไปยังมาตรฐานการวัดระหว่างประเทศเพื่อใช้อ้างอิงเป็นมาตรฐานที่มีความถูกต้องสูงสุดของประเทศ "การวัดปริมาณ" หมายความว่า การวัดปริมาณของหน่วยวัดทางวิทยาศาสตร์ที่กำหนดให้ใช้เป็นหน่วยวัดตามระบบหน่วยวัดระหว่างประเทศ เช่น ปริมาณความยาว มวล เวลา กระแสไฟฟ้า อุณหภูมิ ความเข้มของแสง และปริมาณสาร "การพัฒนาระบบมาตรวิทยา" หมายความว่า การศึกษา ค้นคว้า และวิจัยทางวิทยาศาสตร์เกี่ยวกับเครื่องมือ อุปกรณ์ หรือวัสดุอ้างอิงที่ใช้ในการวัดปริมาณ เพื่อให้เครื่องมือ อุปกรณ์ หรือวัสดุอ้างอิงดังกล่าว มีความถูกต้องตามมาตรฐานระหว่างประเทศ รวมถึงกิจกรรมที่ส่งเสริมให้มีการถ่ายทอดความถูกต้องของการวัดปริมาณ การจัดหาและบำรุงรักษาเครื่องมือ อุปกรณ์ หรือวัสดุอ้างอิงที่ใช้ในการวัดปริมาณ "มาตรฐานอ้างอิง" หมายความว่า มาตรฐานการวัดที่องค์กรหรือหน่วยงานใช้เป็นมาตรฐานเพื่อการสอบเทียบกับมาตรฐานการวัดอื่น ๆ สำหรับปริมาณที่กำหนด "วัสดุอ้างอิง" หมายความว่า วัสดุหรือสารมาตรฐานที่มีการระบุสมบัติเฉพาะ ซึ่งสมบัติเฉพาะนั้นมีความเป็นเนื้อเดียวและเสถียรพอเพียง ซึ่งจัดเตรียมขึ้นมาสำหรับใช้ในการวัดหรือการตรวจสอบสมบัติเชิงคุณภาพ "กองทุน" หมายความว่า กองทุนเพื่อการพัฒนาระบบมาตรวิทยา "คณะกรรมการ" หมายความว่า คณะกรรมการมาตรวิทยาแห่งชาติ "สถาบัน" หมายความว่า สถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ "ผู้อำนวยการ" หมายความว่า ผู้อำนวยการสถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ "รัฐมนตรี" หมายความว่า รัฐมนตรีผู้รักษาการตามพระราชบัญญัตินี้